ZEISS O-INSPECT
Мультисенсорная КИМ ZEISS O-INSPECT, совмещающая оптику и контактное сканирование в одном цикле.
Технические характеристики
- Тип
- мультисенсорная КИМ (оптика и контактное сканирование)
- Датчики
- камера ZEISS Discovery.V12 (зум 12:1), VAST XXT (контактный), опционально хроматический DotScan
- Применение
- мультисенсорный контроль сложных прецизионных деталей за одну установку
- Производитель
- ZEISS Industrial Quality Solutions
- Погрешность (MPE E0 3D)
- от 1.9 + L/250 мкм
- Диапазон измерений
- от 300×200×200 до 800×600×300 мм
Подробное описание
O-INSPECT нужна там, где на одной детали есть и мелкие оптические элементы, и размеры, которые точнее снять щупом. Машина измеряет оптикой и касанием за одну установку, что ускоряет контроль сложных прецизионных деталей и убирает перебазирование между приборами. При подборе КИМ уточняют измерительный объём, требуемую погрешность, тип датчиков, условия помещения и требования к отчётам ОТК.
Кому подходит: метрологическим лабораториям сложных прецизионных деталей, которым нужна мультисенсорная КИМ ZEISS O-INSPECT с оптикой и контактным сканированием для контроля за одну установку.
Заинтересовал этот товар?
Заполните форму ниже, и наши специалисты свяжутся с вами для консультации и предоставления актуальной информации о цене и наличии.